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HAST加速老化試驗箱多層電路板測試

發(fā)布日期:2023-06-30      點擊:469

HAST加速老化試驗箱多層電路板測試  HAST加速老化試驗箱多層電路板測試好處

HAST(Highly Accelerated Stress Test)加速老化試驗箱是一種常用于電子產(chǎn)品可靠性測試的設備。它可以模擬高溫、高濕環(huán)境,對電子產(chǎn)品進行長時間的加速老化測試。在多層電路板測試中,HAST加速老化試驗箱可以幫助檢測電路板在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。它可以模擬現(xiàn)實生活中可能遇到的惡劣環(huán)境條件,通過加速老化測試,評估電路板在長期使用中是否會出現(xiàn)性能下降、功能失效等問題。

在測試過程中,電路板會被放置在HAST加速老化試驗箱中,然后設定相應的溫度和濕度條件。在高溫高濕的環(huán)境下,電路板會經(jīng)歷長時間的老化過程,通過監(jiān)測電路板的性能指標和功能,可以評估其可靠性和耐久性。

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多層電路板測試是電子產(chǎn)品開發(fā)和制造過程中重要的一環(huán),它可以幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題和缺陷,并提前進行改進和優(yōu)化。通過使用HAST加速老化試驗箱進行多層電路板測試,可以有效提高電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性,確保其在各種環(huán)境條件下的正常運行。 一、設備用途:

    HAST加速老化試驗箱廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試,對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進行測試。

二、設備特點:

1) 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構,在很大程度上降低了使用故障率。

2) 獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3) 門鎖省力結構,解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4) 試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5) 超長效實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉400小時.

6) 水位保護,透過試驗室內水位Sensor檢知保護.

7) tank耐壓設計,箱體耐壓力(150)2.65kg,符合水壓測試6kg.

8) 二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.

9) 安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10) 偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配)

11) USB導出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.

三、主要技術參數(shù):

設備型號: HE-HAST-40

圓形內箱尺寸: 直徑Φ400×500mm

溫度范圍: +100℃~+132( 蒸氣溫度 )

溫度波動度: ±0.5

溫度顯示精度: 0.1

濕度范圍: 70~100% 蒸氣濕度

濕度控制穩(wěn)定度: ±3%RH

使用壓力: 1.2~2.89kg(1atm)

壓力波動均勻度: ±0.1Kg

時間范圍: 0 Hr999Hr

加壓時間: 0.00 Kg1.04 Kg/cm2   45

控制器: PLC可程式彩色觸摸屏控制

內桶材質: SUS316#不銹鋼板

外箱材質: SECC冷鋼板高溫烤漆處理

使用電源: 單相 220V  20A  50/60Hz

安全保護: 超壓保護,超溫保護,缺水保護等

水質要求: 純水或蒸餾水(用戶自備)

HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中有以下好處:1. 高效加速老化:HAST試驗箱可以模擬高溫高濕環(huán)境,通過提高溫度和濕度,加速電路板的老化過程。相比于自然老化,HAST試驗可以在較短的時間內提供更快的老化速度,加快產(chǎn)品開發(fā)和測試周期。

2. 發(fā)現(xiàn)潛在問題:通過多層電路板測試,可以及早發(fā)現(xiàn)電路板中的潛在問題和缺陷。HAST試驗可以暴露出電路板在高溫高濕環(huán)境下可能出現(xiàn)的性能下降、功能失效、電氣故障等問題,從而提前采取措施進行改進和優(yōu)化。

3. 提高產(chǎn)品可靠性:通過經(jīng)過HAST加速老化試驗的多層電路板進行測試,可以評估電路板在長期使用中的可靠性和耐久性。這樣可以確保產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境條件下仍然能夠正常運行,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

4. 節(jié)省成本和時間:通過使用HAST試驗箱進行多層電路板測試,可以在短時間內獲得可靠的測試結果。這樣可以減少產(chǎn)品開發(fā)和測試周期,提高生產(chǎn)效率,同時也能夠減少因產(chǎn)品在實際使用中出現(xiàn)問題而導致的維修和返工成本。

總的來說,HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中可以提供高效的加速老化測試,幫助發(fā)現(xiàn)潛在問題,提高產(chǎn)品可靠性,同時也能夠節(jié)省成本和時間。